Set of Diploma Courses I: Spectroscopic and Microscopic Methods
Kierunek studiów: Fizyka
Kod programu: W4-S2FZA22.2022

Nazwa modułu: | Set of Diploma Courses I: Spectroscopic and Microscopic Methods |
---|---|
Kod modułu: | W4-2F-22-19 |
Kod programu: | W4-S2FZA22.2022 |
Semestr: |
|
Język wykładowy: | angielski |
Forma zaliczenia: | egzamin |
Punkty ECTS: | 4 |
Opis: | I. Metody spektroskopowe
1. Rodzaje spektroskopii, budowa elektronowa atomów i cząsteczek, przejścia elektronowe, oscylacje i rotacje, reguły wyboru, widma absorpcyjne.
2. Spektrometria i spektrometry UV/VIS, analiza jakościowa i ilościowa.
3. Spektroskopia absorpcji w podczerwieni (IR) i rozpraszania Ramana (RS) - podstawowe zagadnienia związane ze spektroskopią oscylacyjną i możliwościami wykorzystania tych metod spektroskopowych do nanomateriałów.
4. Wprowadzenie do spektroskopii fotoemisji rentgenowskiej (XPS) lub wzbudzanej promieniowaniem ultrafioletowym (UPS), spektrometrii masowej jonów wtórnych (SIMS, SNMS, ToF SIMS), spektroskopii elektronów Augera (AES).
II. Metody mikroskopowe
1. Podstawy mikroskopii elektronowej: skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM) i transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM)
2. Metody analizy nanostruktur - techniki skanowania: skaningowa mikroskopia tunelowa (STM) i mikroskopia sił atomowych (AFM):
• Tunelowanie w aranżacji powierzchni przewodzącej końcówkę. Model Tersoffa-Hamana dla niskiego i wysokiego napięcia.
• Wprowadzenie do teorii mikroskopii sił atomowych. Stała Hamakera.
• Rodzaje mikroskopii sond skanujących i ich zastosowanie w fizyce, chemii, biologii, medycynie i inżynierii materiałowej.
• Budowa skaningowej mikroskopii tunelowej, rozdzielczość, stabilność i ograniczenia.
• Mikroskopia sił atomowych - podobieństwa i różnice w porównaniu ze skaningową mikroskopią tunelową.
• Dominująca rola metod mikroskopii sił atomowych we współczesnych badaniach właściwości powierzchni z rozdzielczością atomową.
• Mikroskopia sił atomowych w badaniach lokalnego przewodnictwa elektrycznego i jej zastosowanie do analizy procesów rezystywności przełączania w skali nano
Podczas wykładów i konwersacji studenci zapoznają się z podstawowymi zagadnieniami związanymi z różnymi metodami spektroskopowymi i mikroskopowymi. Podczas pracy laboratoryjnej poznają praktyczne aspekty różnych technik pomiarowych spektroskopii i mikroskopii. Na początku semestru studenci są informowani o metodach badawczych stosowanych na zajęciach laboratoryjnych. Po wykonaniu eksperymentu student przedstawia sprawozdanie zawierające teoretyczne wprowadzenie do problemu; przyjętą metodologię, opis badania, analizę i omówienie wyników oraz ich znaczenie dla podobnych badań.
Egzamin obowiązkowy |
Wymagania wstępne: | Znajomość fizyki i matematyki z zakresu studiów licencjackich z fizyki |
Literatura podstawowa: | Literatura:
1. Springer Handbook of Nanotechnology (Bharat Bhushan Ed.), 2004, 2007, Springer Science+Business Media, Inc
2. „Spektrometria UV/VIS w analizie chemicznej” Teresa Nowicka-Jankowska, Elżbieta Wieteska, Krystyna Gorczyńska, Anna Michalik, PWN 1988.
3. „Spektrometria masowa” Włodzimierz Żuk, PWN 1956.
4. „Spektrometria mas” Robert A. W. Johnstone, Malcolm E. Rosse, PWN SA 2001.
5. „Photoelectron Spectroscopy”, S. Huefner, Springer Verlag 2003.
6. Andrew J. Lee, Christoph Walti. 01 Dec 2015, Studying Biologically Templated Materials with Atomic Force Microscopy from: Nanomaterials A Guide to Fabrication and Applications, CRC Press
7. John F. Watts, John Wolstenholme, An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, 2003 by John Wiley & Sons Ltd,
8. R. Howland, L.Benatar, STM/AFM Mikroskopy ze skanującą sondą, Warszawa 2002 |
Efekt modułowy | Kody efektów kierunkowych do których odnosi się efekt modułowy [stopień realizacji: skala 1-5] |
---|---|
posiada poszerzoną wiedzę z mechaniki kwantowej i fizyki statystycznej [2F_19_1] |
KF_W03 [5/5] |
ma pogłębioną wiedzę z zakresu fizyki fazy skondensowanej [2F_19_2] |
KF_W04 [4/5] |
zna budowę i zasadę działania aparatury naukowej [2F_19_3] |
KF_W08 [4/5] |
na gruncie poznanej wiedzy umie wyjaśnić procesy fizyczne zachodzące w otaczającym go świecie [2F_19_4] |
KF_U03 [2/5] |
na gruncie zdobytej wiedzy umie wyjaśnić działanie aparatury badawczej [2F_19_5] |
KF_U04 [5/5] |
rozumie potrzebę systematycznego zapoznawania się z czasopismami naukowymi i popularnonaukowymi, w celu poszerzania i pogłębiania wiedzy z fizyki [2F_19_6] |
KF_K04 [5/5] |
Typ | Opis | Kody efektów modułowych do których odnosi się sposób weryfikacji |
---|---|---|
aktywność na zajęciach [2F_19_w_1] | rozwiązywanie problemów, przeprowadzenie obliczeń i dyskusja wyników; korzystanie z programów komputerowych, skala ocen 2-5 |
2F_19_1 |
sprawozdania [2F_19_w_2] | opracowanie wyników pomiarów, dyskusja błędów, skala ocen 2-5 |
2F_19_1 |
egzamin pisemny [2F_19_w_3] | wszystkie zagadnienia omawiane na wykładach, skala ocen 2-5 |
2F_19_1 |
Rodzaj prowadzonych zajęć | Praca własna studenta | Sposoby weryfikacji | |||
---|---|---|---|---|---|
Typ | Opis (z uwzględnieniem metod dydaktycznych) | Liczba godzin | Opis | Liczba godzin | |
wykład [2F_19_fs_1] | Wykład z wykorzystaniem pomocy audiowizualnych |
20 | Praca z podręcznikiem , lektura uzupełniająca |
40 |
egzamin pisemny [2F_19_w_3] |
laboratorium [2F_19_fs_2] | przygotowanie, przeprowadzenie oraz opracowanie wyników pomiarów |
20 | przygotowanie zagadnień i zadań wskazanych przez prowadzącego, |
50 |
sprawozdania [2F_19_w_2] |
konwersatorium [2F_19_fs_3] | omówienie zagadnień podanych na wykładzie oraz będących przedmiotem eksperymentu, dyskusja |
10 | przygotowanie zagadnień wskazanych przez prowadzącego, |
30 |
aktywność na zajęciach [2F_19_w_1] |
Załączniki |
---|
Opis modułu (PDF) |
Sylabusy (USOSweb) | ||
---|---|---|
Semestr | Moduł | Język wykładowy |
(brak danych) |